seki lab. logo

Instruments
研究装置

表面・形状測定、微細加工装置Surface morphology observation, lithography

原子間力顕微鏡

(Atomic Force Microscope: AFM)
SPA 400

偏光光学顕微鏡

(Polarized Optical Microscope: POM)
nikon MODEL ECLIPSE E-600FN

電界効果型 電子走査顕微鏡

(Field-Effect Scanning Electron Microscope: FE-SEM))

電子線描画装置(SEMと一体型)

(Electron beam writer, electron beam lithography)

走査プローブ顕微鏡

(Scanning Probe Microscope: SPM)

表面プロファイラー、膜厚計

(Surface Profiler, Film Thickness Measurement)
Dektak 150

集束イオンビーム描画装置

(Focused Ion Beam: FIB)
KMI-9200

時間分解、マイクロ波測定Time-resolved study

光励起・時間分解マイクロ波伝導度装置、光過渡吸収分光装置

(Flash-Photolysis Time-Resolved Microwave Conductivity: FP-TRMC, Transient Absorption Sepectroscopy: TAS)

有機薄膜太陽電池用 光励起・時間分解マイクロ波伝導度装置

(Flash-Photolysis Time-Resolved Microwave Conductivity: FP-TRMC)

電子スピン共鳴装置(時間分解オプション付き)

(Electron Spin Resonance: ESR, with time-resolved measurment)
JES-FA200

ArF エキシマレーザー

(ArF Excimer Laser)

光過渡電流測定、飛行時間測定

(Photocurrent measurment, Time-of-Flight: TOF)

ピコ秒蛍光寿命装置

(Picosecond fluorescence lifetime spectroscopy)

マイクロ波誘電吸収測定

(Microwave dielectric loss spectroscopy)

有機電子デバイス作製・評価Fabrication and evaluation of organic electronic devices

グローブボックス(スピンコーター(MS-A100)、封止装置、ヒーター(特HHE-11G-U))

(Glovebox with spin-coater, sealer, heater)

熱蒸着装置(Glovebox直結型)

(Thermal evaporator, connected to glove box)
E-80

グローブボックス(スピンコーター、ヒーター、電子天秤)

(Glovebox with spin-coater, heater, weighter)

熱蒸着・RFスパッタ装置(Glovebox 直結型)

(Thermal evaporator and RF sputter, (connected to glove box)

FET測定用プローバー

(FET prober)

半導体パラメータアナライザ

(Semiconductor Analyzer)
KEITHLEY 4200-SCS/F

ソーラーシミュレータ

(Solar Simulator)
XES-301S+EL-100

熱蒸着・RFスパッタ装置

(Thermal evaporator and RF sputter)
VX-2OH

UV/Ozone, スピンコーター、真空オーブン

(UV/Ozone, spin-coater, vaccum oven)

光リソグラフィー装置一式(スピンコーター、ヒーター、光照射装置)

(Photo Lithography)

分光感度測定装置

(External Quantum Efficiency: EQE Spectrometer)
SM-250KD

分光感度測定装置

(External Quantum Efficiency: EQE Spectrometer)
IPCE-1500

磁気特性測定装置

(SQUID)

基礎物性測定 合成関連装置General measurement/synthesis

サイクリックボルタンメトリー

(Cyclic Voltammetry: CV)
BAS 100B

ドラフト x5

(Ventilation x5)

示差走査 熱量測定

(Differential Scanning Calorimetry: DSC)
DSC6000ベースユニット, DSC6200Sセンサーユニット

エバポレータ

(Evaporator)
N-1110V, N-1000V

ゲル浸透クロマトグラフィー

(Gel Permeation Chromatography: GPC)

400 MHz 核磁気共鳴装置

(Nuclear Magnetic Resonance: NMR)

分取用高速液体クロマトグラフィー (リサイクル)

(High performance liquid chromatography: HPLC)
LC-9210NEXT

フーリエ変換型赤外分光

(Fourier Tranform Infrared Spectroscopy: FT-IR)
Nexus470

光吸収スペクトル測定装置

(UV-Vis-IR Absorption Spectroscopy)
V-570 紫外可視近赤外分光光度計, ISN-470 光度計用積分球装置

真空ライン

(Vacuum line)

蛍光測定装置

(Fluorescence Spectroscopy)
F-7200

光電子収量測定装置

(Photoelectron Yield Spectroscopy: PYS)